蔡司X射线显微镜Xradia600系列Versa，采用光学加几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜Xradia600系列Versa拓展了无损成像的研究界限，提高研究灵活性，加快研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索合发现的感兴趣区域进行高分辨成像。
详细介绍
蔡司X射线显微镜Xradia600系列Versa，采用光学加几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜Xradia600系列Versa拓展了无损成像的研究界限，提高研究灵活性，加快研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索合发现的感兴趣区域进行高分辨成像。
[产品特点]
1.三维无损成像
2.500nm真实空间分辨率，40nm小体素
3.更快的成像速度
4.*的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像
5.吸收、相位和衍射衬度成像模式
6.4D原位成像能力
7.可升级、拓展和可靠性
[应用领域]
1.材料科学，如三维无损分析
2.生命科学，如微观结构成像
3.地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像
4.电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析
5.原位力学、变温试验
6.衍射衬度成像，实现三维晶粒取向分析
本产品信息由卡尔蔡司（上海）管理有限公司整理发布，更多关于蔡司无损分析X射线显微镜的信息请访问：
https://www.chem17.com/st443848/product_34726055.html
