蔡司Crossbeam系列-蔡司聚焦离子束扫描电镜将场发射扫描电镜（FE-SEM）镜筒的强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束（FIB）的高效处理加工能力相结合。无论是加工切割、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用速率效率。通过加装飞秒激光（FemtosecondLaser）模块，Crossbeam的加工效率可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。
详细介绍
蔡司Crossbeam系列-蔡司聚焦离子束扫描电镜将场发射扫描电镜（FE-SEM）镜筒的强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束（FIB）的高效处理加工能力相结合。无论是加工切割、成像或进行3D分析，都能在不损失精度的前提下，提高聚焦离子束的应用速率效率。通过加装飞秒激光（FemtosecondLaser）模块，Crossbeam的加工效率可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。
[产品特点]
1.低能着陆电压下获得高分辨率图像
2.可实现大尺寸到纳米精度的切割
3.批量自动制备TEM薄片样品
4.Atlas5可创建多尺度、多模式综合图像
5.ToF-SIMS实现高通量3D成份分析
6.特别设计的无漏磁镜筒
7.不导电样品不受荷电效应影响
8.加装飞秒激光模块，实现亚毫米级快速加工，同时有效避免腔室污染
[应用领域]
1.生命科学，如断层扫描，三维重构
2.电池领域，如原子层组分表征
3.半导体领域，如失效分析，电路修复
4.金属领域，如界面分析，亚表面分析
5.材料科学，如晶体微观结构分析，纳米图形化加工
6.透射电镜、EBSD、微观力学等多种样品的原位制备
本产品信息由卡尔蔡司（上海）管理有限公司整理发布，更多关于蔡司Crossbeam聚焦离子束的信息请访问：
https://www.chem17.com/st443848/erlist_2123684.html
https://www.chem17.com/st443848/product_34699251.html
