石英微重天平

QSense Explorer扩展版石英微重天平技术的核心是石英晶体传感器，它由石英晶体夹在两片电极中间形成三明治结构。在电极两端加入一个交流电压，在传感器的共振频率处引发一个小的剪切振动，当交流电压关闭后，振动呈指数衰减，这个衰减被记录下来，得到共振频率(f)和耗散因子(D)两个参数。

对于薄层硬质薄膜，可以使用Sauerbrey关系和公式，根据传感器振动计算吸附层的质量。当沉积的薄膜松散和粘性时，能量通过薄膜上的摩擦被消耗，传感器的振动发生衰减，耗散因子提供了传感器上吸附的薄膜的结构信息。通过使用多个频率和耗散因子数据，使用粘弹性模型而非Sauerbrey关系，我们可以计算得到质量（mass）、厚度（thickness）、粘度（viscosity）和弹性（elasticity）。

越来越多发表的科学文献证明了QCM-D系统的技术可靠性。QSense Explorer扩展版石英微重天平技术的核心是石英晶体在负载电压下以一个特定频率振荡。当晶体上的质量改变时，振荡的共振频率也会随之变化。通过这种方法，可以在纳克级灵敏度上测定质量变化。这种设计可以同时测量耗散因子，从而提供薄膜的结构和粘弹性信息。它可以提供诸如吸附膜的分子结构、厚度、水含量的信息。此外还可以检测反应前、进行中和结束后的表面吸附层的变化。耗散因子是指当电路断开后震荡的晶体频率降低到0的时间快慢。任何可在芯片上形成薄膜的物质都可以进行免标记测试，这些物质包括聚合物、金属和化学改性表面。实时测试系统每秒可提供高达200个数据点。

**********产品优势**********

● 追踪表/界面变化

凭借着纳克级的灵敏度，石英晶体微天平QSense Explorer可以精确测量吸附层的质量变化，结构和粘弹性质。石英晶体微天平QSense Explorer可以区分两个相似吸附层，或者观测相转变或吸附层的结构变化。不仅如此，两种类型相似层的吸附，吸附层相转变或者结构变化，都可以通过石英晶体微天平（QCM-D）检测出来。

● 实时分析

每秒记录高达200个数据点，QSense系统可以让您实时、完整地跟踪分子的相互作用。

● 自由的表面选择

金属，聚合物，化学改性表面，只要是能在芯片表面上铺展成薄膜的材料，都可以成为我们的定制芯片涂层。

● 整体解决方案

QSense提供易于上手的整体解决方案。 QSense Explorer系统包括仪器、软件、电脑和安装教程。QSense也提供技术培训和应用支持。

● 单通道传感器系统

紧凑、易用、免标记的单通道传感器设计保证您进行可靠稳定的QCM-D测试，同时具有可重复性。

https://www.chem17.com/st242067/erlist_2577418.html
http://www.biolin17.com/Products-39114833.html