多槽推扫近红外显微高光谱成像仪，是高谱成像新推出的一体化高性能光谱微观检测精密设备，主要应用于近红外显微测量场景。设备将近红外高光谱相机与显微镜结合，借助多槽位切片推扫系统，实现对显微多切片、全样本面的近红外光谱采集。多槽推扫近红外显微高光谱成像仪在采集样品高清空间图像数据的同时，也可获取样本近红外光谱特征信息，在生物细胞、材料分析、生命科学及证物分析等多种显微检测分析领域有广泛的应用价值。
※ 配合不同倍率的物镜实现高倍率的观察与高光谱成像；
※ 支持反射式和透射式两用的显微高光谱成像；
※ 采用电动对焦模块，支持微米级调焦，能实时观察高清图像画面并快速实现高清对焦;
※ 紧凑式设计，采用多槽位切片推扫设计，实现对显微多切片、全样本面的近红外光谱采集;
※ 专用全谱段照明光源，透射和反射通用，适应高光谱专业照明要求；
※ 高空间分辨率和光谱分辨率；
※ 生命医药与病理研究：无需染色，即可对细胞、组织进行活体或离体光谱分析，助力癌组织筛查、药物作用机理研究和病理 模型构建。
※ 司法刑侦与文物鉴定：对细微痕迹、墨水、纤维、颜料进行无损光谱比对，为物证鉴定提供科学依据。
※ 农业与植物科学：通过分析植物茎横切片的光谱特征，可无损评估其细胞活性、营养状态与胁迫反应，预测生长趋势。
※ 材料科学与鉴别：实现对复合材料、高分子、半导体材料的成分分析与缺陷检测。
客户提供木本双子叶植物茎横切片，将其放入近红外显微高光谱位移台。经近红外显微高光谱电动对焦后完成完 整切片采集。通过观察光谱曲线和高光谱图像，可以判断木本双子叶植物茎横切片细胞是否有异常区域，从而预测植 物的生长状态，是否有发育良好等。
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