光学应力分析仪主要特点：
硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布。
红外波长的双折射/相位差面分布测量；
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估；
小型、簡単操作、高速測量；
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布；
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View；
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据；
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场。
光学应力分析仪主要功能：
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息；
测量数据的保存/读取简单快捷；
全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等；
丰富的图形创建功能；
可以自由制作线图形和直方图；
测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出。
利用应力双折射研究应力分布的仪器称为光测弹性仪，这种方法目前已发展成为一门专门的学科。称为光测弹性学，它广泛应用于材料力学的测量中。对机械结构中一些形状复杂的部件。承受不同负荷时的应力分布是很复杂的。我们可以用透明材料制成相应的模型，并按实际使用时的受力情况对模型施以机械力，利用偏振光干涉装置，就可分析应力分布。利用全息光测弹性技术，可观察和分析样品的乏维应力分布
http://www.oelectron.cn/Products-39743117.html
https://www.chem17.com/st348659/product_39743117.html
