赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜，该仪器将微区成分分析与电镜成像集成在同一平台上，快速提供所需微观形貌及实时成分信息，帮助学术和工业用户快速获得全面、可靠的数据，准确执行故障分析和缺陷检测。
赛默飞Axia ChemiSEM 钨灯丝扫描电镜主要技术参数及特点：
•通用型 SEM 系统，可涵盖多种类型样品。可分析绝缘材料、处理大而重(达10 kg)的样品，同时能够分析常规的小尺寸样品。
•灵活性 SEM 系统，支持各类功能附件。
•使用便捷，不依赖于用户操作水平、能够便捷提供元素或化学信息。
•高度自动化，自动对中技术确保系统始终处于z佳工作状态，用户指南及撤销功能帮助用户更轻松操作系统。
•处理效率高：实时定量成分分析成像，更快获得定量分析数据。
•分辨率：3nm@30kV，8nm@3kV
原FEI公司，2016年被赛默飞世尔科技收购，成为赛默飞材料与结构分析（MSD) 电镜事业部，是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM，透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM，结合先进的软件套件，运用广泛的样本类型，通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合，使客户的问题变成有效可用的数据。
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