纳米激光粒度仪
第一：产品介绍
Nano9400SZ 系列纳米粒度及zeta电位仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位 。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光 学和化学活性等方面表现出自身的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的主要 参数，准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta 电位是表征胶体 分散系稳定性的关键参数，Zeta电位越高，胶体就越稳定，反之，Zeta 电位越低，胶体稳定性就越差，通过测量和调整胶体的Zeta电位，就可以控 制其稳定性。因此，Nano9400 SZ系列纳米粒度及 Zeta 电位分析仪广泛应用于 产品开发、生产、质量控制以及科学研究。
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产品类别 |
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| 型号 |
Nano9400SZ |
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| 技术类型 | 采用多角度动态光散射技术 提供更高分辨率的粒度测量结果 | ||
| 经典动态光散射（DLS） | √ | ||
| 背向动态光散射（BSDLS） |
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| 多角度动态光散射（MADLS） | √ | ||
| 电泳光散射（ELS） |
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| 测量角度 | 11°+90°+175° | ||
| 测量类型 |
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| 粒度 |
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| Zeta电位 |
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| 分子量 |
√ |
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| 温度/时间趋势 |
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| 粘度 |
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| 优势 |
多角度动态光散射(MADLS)技术，提供高分辨率 ·且与角度无关的粒度测量结果 ·可安装荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，用于 ·消除荧光，并进行去极化DLS测量 ·毛细管粒度样品池，样品量低至3µL，且由于光 ·路短，减弱多次散射光，显著提升样品浓度上限。 |
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㈠颗粒度的测量
a、测量原理
纳米粒度及zeta电位仪测量时当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏 移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒 的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度慢，反之颗粒小布朗运动速度 快，因此动态光散射技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固 定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。
b、技术特点
⑴背散射光路：使用背散射光路接收散射光，减小散射光程，减弱多次散射光，进而可以测量高 浓度样品的颗粒粒度
⑵大动态范围高速光子相关器：采用高速、低速通道搭配的光子相关器，有效解决了硬件资源与 通道数量之间的矛盾，实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数
⑶剔除灰尘干扰：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常 值，提高粒度测量结果的准确性
⑷多角度数据反演：从多个不同的散射角度采集散射光强，可以获得更多的颗粒粒度信息，并将 多个自相关函数结合到一个数据分析中，提供高分辨率且与角度无关的粒度测量结果
⑸温度趋势分析：按照设定的温度范围，自动进行粒度和Zeta电位测量，检测样品粒度或Zeta电 位的温度趋势
⑹超微量样品池：超微量毛细管样品池，样品量低至3µL，且由于光程短，可减弱多次散射光， 能显著提升样品浓度上限
⑺标准化操作(SOP)：软件具有标准化操作功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一 标准进行，测量结果更具可比性
⑻智能化测量：自动调整散射光强，自动优化光子相关器参数，自动设置测量参数，以适应不同 样品，让测量变得轻松愉快
⑼法规软件：软件符合FDA 21 CFR Part 11的要求，可设置/修改用户组的访问权限，具有电子 记录/电子签名和审计跟踪功能，符合制药企业的法规要求
http://www.bjhxrkj.net/Products-37135426.html
https://www.chem17.com/st345762/erlist_1449764.html
