X射线三维显微镜(高分辨率CT)，利用x射线极强的穿透能力，可以在不破坏样品的情况下，获得高精度三维图像，显示样品内部详尽的三维信息，并进行结构、密度的定量分析。该技术可谓当前三维成像技术中非常有效、非常可靠的手段，通过X射线三维显微镜(高分辨率CT)?，还可以获得样品微观结构的数字化模型，可用于后续相关的数值模拟等研究工作。
产品性能介绍：
♦大型、精细定位的11 Mp / 16 Mp CCD探测器，收集每切片超过140 / 200万像素的高分辨率图像
♦清楚的特征检测得益于0.45 µm / 0.35 µm体素的高分辨率图像
♦灵活的探测器定位，自动可变几何
♦理想的非专业操作，以达到高分辨率与短扫描时间的目的
♦能够扫描直径为75 mm ，高度为70 mm或更大的样本
♦为扩展视场而进行的偏移和超大尺寸扫描
♦具有16个或更多的样本位置自动进样器，适用于不同的对象尺寸，并可在操作过程中向队列中添加或替换样本
♦无人值守，自动扫描与充分的灵活性
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